搜索
公司动态
当前位置:
首页
-
-
-
第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在南通举行

第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在南通举行

  • 分类:公司要闻
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2018-09-10
  • 访问量:454

【概要描述】9月7日,由集成电路产业技术创新战略联盟指导,南通市人民政府、集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟主办,南通市电子信息产业联盟、通富微电子股份有限公司承办的“第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛”在南通举行。

第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在南通举行

【概要描述】9月7日,由集成电路产业技术创新战略联盟指导,南通市人民政府、集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟主办,南通市电子信息产业联盟、通富微电子股份有限公司承办的“第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛”在南通举行。

  • 分类:公司要闻
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2018-09-10
  • 访问量:454
详情
      9月7日,由集成电路产业技术创新战略联盟指导,南通市人民政府、集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟主办,南通市电子信息产业联盟、通富微电子股份有限公司承办的“第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛”在南通举行。
集成电路产业技术创新战略联盟理事长、科技部原副部长曹健林,集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟理事长、中科院微电子所所长叶甜春,科技部重大专项司副巡视员、02专项实施管理办公室副主任邱刚,国家集成电路产业投资基金股份有限公司总裁丁文武等行业领导、专家及企业家代表参加会议。通富微电总裁石磊出席会议并主持上午的主题报告。市政府副市长赵闻斌出席会议并致辞。

扫二维码用手机看

推荐新闻

通富微

通富微电子股份有限公司

地址:中国江苏省南通市崇川路288号

邮编:226004

Copyright © 2021 通富微电子股份有限公司 版权所有.  苏ICP备05003519号